华中科技大学机械科学与工程学院研究生导师：陈修国

• 2025考研英语全程班 早鸟3班
• 26考研全科上岸规划营「择校▪规划▪备考」
• 华中科技大学2025考研专业课复习资料「真题▪笔记▪讲义▪题库」

华中科技大学机械科学与工程学院研究生导师陈修国介绍如下：

姓名：陈修国

电话：027-87558045

职称：讲师

邮箱：xiuguochen@hust.edu.cn

个人基本情况

陈修国（Chen Xiuguo, Lecturer），男，博士。2013年6月博士毕业于华中科技大学机械电子工程专业，同年进入华中科技大学材料学院博士后流动站，2016年6月出站，留校工作。

主要从事微纳光学测量技术与仪器方面的研究工作。在Applied Physics Letters、Optics Express、Journal of Applied Physics、Review of Scientific Instruments等国际著名期刊发表SCI论文20余篇；申请国际国内发明专利10余项，其中授权专利9项。

曾获山东省优秀毕业生、华中科技大学优秀毕业研究生、华中科技大学优秀博士后、第四届上银优秀机械博士论文佳作奖、机械学院“优秀博士后奖励计划”、第43届日内瓦国际发明金奖(排名3)等荣誉。

目前，主持有国家自然科学基金青年基金项目1项、中国博士后科学基金面上项目一等资助和特别资助项目各1项。作为项目骨干，先后参入了国家重大科学仪器设备开发专项、国家自然科学基金重大研究计划培育项目等5项。

主要研究方向

微纳光学测量技术与仪器

开设课程

1. 数字电路

2. 光谱椭偏测量概论

近年的科研项目、专著与论文、专利、获奖承担的科研项目：

[1]  国家自然科学基金青年基金项目，纳米结构广义成像椭偏仪椭偏测量理论与方法研究，51405172，2015/01–2017/12

[2]  中国博士后科学基金特别资助项目，基于离焦扫描广义成像椭偏仪的三维纳米结构测量方法，2015T80791，2015/04–2016/09

[3]  中国博士后科学基金面上项目 (一等资助)，基于广义成像椭偏仪的纳米结构几何参数测量方法研究，2014M560607，2014/07–2015/07

代表性著作：

[1]X. G.Chen, C. W. Zhang, and S. Y. Liu, “Depolarization effects from nanoimprintedgrating structures as measured by Mueller matrix polarimetry,” Applied PhysicsLetters 105(15), 151605, 2013

[2]X. G.Chen, S. Y. Liu, C. W. Zhang, and H. Jiang, “Improved measurement accuracy inoptical scatterometry using correction-based library search,” Applied Optics52(27), 6727-6734, 2013

[3]X. G.Chen, S. Y. Liu, C. W. Zhang, H. Jiang, Z. C. Ma, T. Y. Sun, and Z. M. Xu,“Accurate characterization of nanoimprinted resist patterns using Muellermatrix ellipsometry,” Optics Express 22(12), 15165-15177, 2014

[4]X. G.Chen, C. W. Zhang, S. Y. Liu, H. Jiang, Z. C. Ma, and Z. M. Xu, “Mueller matrixellipsometric detection of profile asymmetry in nanoimprinted gratingstructures,” Journal of Applied Physics 116(19), 194305, 2014

[5]X. G.Chen, S. Y. Liu, H. G. Gu, and C. W. Zhang, “Formulation of error propagationand estimation in grating reconstruction by a dual-rotating compensator Muellermatrix polarimeter,” Thin Solid Films 571, 653-659, 2014

[6]X. G.Chen, H. Jiang, C. W. Zhang, and S. Y. Liu, “Towards understanding thedetection of profile asymmetry from Mueller matrix differential decomposition,”Journal of Applied Physics 118(22), 225308, 2015

[7]X. G.Chen, W. C. Du, K. Yuan, J. Chen, H. Jiang, C. W. Zhang, and S. Y. Liu,“Development of a spectroscopic Mueller matrix imaging ellipsometer fornanostructure metrology,” Review of Scientific Instruments 87(5), 053707, 2016