华北电力大学（保定）

《523材料分析测试技术》

一、考试范围：

1.X射线分析理论基础：X射线的本质及X射线谱;X射线与物质的相互作用;X射线衍射与布拉格方程;倒易点阵;X射线衍射强度与结构因数的计算。

2.X射线衍射方法及衍射分析:粉末照相法;X射线衍射仪法;物相的定性分析;物相的定量分析;X射线在材料测试分析方面的其他应用。

3.TEM分析:电子与物质的交互作用;透射电镜的结构及应用;电子衍射及结构分析;材料薄膜样品的制备与薄晶体样品的衍衬成像原理。

4.SEM分析:扫描电镜工作原理、构造和性能;扫描电镜在材料研究中的应用。

5.其它材料分析测试技术:热分析及应用;波谱仪及应用;能谱仪及应用;电子探针分析方法及微区成分分析技术。

二、考查重点：

1.基本概念：晶体结构基础：晶系、晶帯、晶向、晶簇、倒空间概念、对称性;X 射线基础理论：X射线特征谱的形成机理、质量吸收因子、KLL电子、俄歇光谱、原子散射因子、结构因子、超点阵;电子显微镜的基本原理和方法： SEM、TEM、AFM、STM、EDS、WDS 等的工作原理;分辨率、焦长、景深、复型技术、放大倍数、衍射衬度、二次电子、背散射电子、明-暗场像; XRD 与电子衍射区别、SEM 与 TEM 的区别等。

2.理论公式的推导: 正、倒空间中的布拉格方程;正、倒空间之间的边角关系;晶面间距公式;立方、正交及六方晶系的消光规律。

3.晶体投影及晶面和晶向的绘图：立方晶体中的晶面和晶向的作图; 标准立方结构投影图(晶面、晶向、晶 帯)及转动 45 度、90 度的投影图。

4.点阵常数的精确测定：应用最小二乘法确定立方晶系的点阵类型并计算点阵常数。

5. 电子衍射斑点的指标化。

三、是否需携带计算器(是或否)：

是